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　　霍爾效應特斯拉計對均勻、恒定磁場測量的準確度一般在5%—0.5%，高精度的測量準確度可以達到0.05%。但對磁體表面的非均勻磁場的測量就談不上準確度了。往往是不同的儀表，或同型號的儀表，不同的探頭，或同一支探頭的不同側面，去測量同一磁體表面，同一位置（應該說看上去是同一位置）的磁場時，顯示的結果大不一樣，誤差可以超過20%，甚至50%。

　　造成上述差別的原因有兩點：

　　其一，不同探頭內霍爾元件封裝的位置不同，或元件不在探頭兩側的中部。這些探頭在均勻磁場中，不會因位置上的改變而感受到磁場的改變，測量數據也不會因位置的不同而帶來誤差。當用不同的探頭去測磁體表面發散的、不均勻的磁場時，雖然表面看上去是放到了同一位置，而內部霍爾元件感受到的并不是同一位置的磁場。感受到的場值不同，測量結果當然不一樣。見不同磁體磁場示意圖。一般，對于徑向探頭，厚度越小，內部霍爾元件離表面越近，測量表面磁場顯示讀數越大。采用超薄探頭去測表面磁場時讀數可以高于常規探頭20%以上（被測磁體尺寸越小，磁體表面曲率越大，表面磁場越不均勻，測量數據差別越大），但是無論多薄的探頭，其內部對磁場敏感的部分與磁體表面總有一個間距，不可能為*。所以說，不可能測到表面磁場。只能說，使用的探頭越薄，讀數越能反映出磁體的表面磁場。

　　原因之二是：不同型號的霍爾探頭內，所封裝霍爾元件的敏感區尺寸不同。早期的體形霍爾元件，如鍺、硅霍爾元件，尺寸一般為4×2㎜2也有6×3㎜2、8×4㎜2、zui小為1.5×1.5㎜2，有效的敏感區基本上是元件本身的尺寸，面積大。若用這種霍爾元件來對磁力線發散的小磁體、磁體邊角部分或多極充磁的表磁進行測量。僅能反映出通過該元件表面的磁感應強度的平均值。此值必定小于該區域的大值。如果改用敏感區小的霍爾元件，如砷化鎵霍爾元件，其敏感區的有效面積約為0.1×0.1～0.2×0.2㎜2遠遠小于體形元件的面積。這種元件就更能反映出表面磁場的場分布，所測到的zui大值也更接近該區域的zui大磁感應強度實際值。

　　以上即是霍爾探頭尺寸對高斯計測試值誤差分析總結。當然，有興趣的朋友也可以自己去搜搜一這方面的資料。

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霍爾探頭尺寸對高斯計測試值誤差分析